|
|
|
|
LEADER |
02639nam a2200385 c 4500 |
001 |
vtls000462742 |
003 |
RU-ToGU |
005 |
20230319192903.0 |
008 |
131105s2013 ru a f bm 000 0 rus d |
035 |
|
|
|a to000462742
|
039 |
|
9 |
|a 201311211233
|y 201311050839
|z Александр Эльверович Гилязов
|
040 |
|
|
|a RU-ToGU
|b rus
|c RU-ToGU
|
072 |
|
7 |
|a 01.02.04
|2 nsnr
|
080 |
|
|
|a 629.783:621.396.6:621.791.3(043.3)
|
080 |
|
|
|a 539.319:621.791.3(043.3)
|
100 |
1 |
|
|a Азин, Антон Владимирович
|9 564981
|
245 |
1 |
0 |
|a Исследование напряженно-деформированного состояния и долговечности контактных соединений электронных модулей космических аппаратов
|b диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.02.04
|c Азин Антон Владимирович ; науч. рук. Пономарев С. В. ; Том. гос. ун-т
|
260 |
|
|
|a Томск
|b [б. и.]
|c 2013
|9 879361
|
300 |
|
|
|a 152 л.
|b ил.
|
504 |
|
|
|a Библиогр.: л. 145-152
|
650 |
|
7 |
|a Механика деформируемого твердого тела
|2 nsnr
|9 81905
|
653 |
|
|
|a диссертации
|
653 |
|
|
|a электронные модули, контактные соединения
|
653 |
|
|
|a напряженно-деформированные состояния
|
653 |
|
|
|a микрочипы, дефекты паяных соединений
|
653 |
|
|
|a контактные соединения электронных модулей, долговечность
|
653 |
|
|
|a контактные соединения электронных модулей, деформации
|
653 |
|
|
|a контактные соединения паяные, модели повреждаемости
|
653 |
|
|
|a контактные соединения электронных модулей, испытания
|
700 |
1 |
|
|a Пономарев, Сергей Васильевич
|c доктор физ.-мат. наук
|4 ths
|9 563100
|
710 |
2 |
|
|a Томский государственный университет.
|9 53646
|
852 |
4 |
|
|a RU-ToGU
|n ru
|
856 |
|
|
|y Перейти в каталог НБ ТГУ
|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=335403
|
999 |
|
|
|c 335403
|d 335403
|
952 |
|
|
|0 0
|1 0
|4 0
|6 2000636
|7 0
|9 573580
|a RU-ToGU
|b RU-ToGU
|c 10024
|d 2021-04-04
|g 700.00
|l 0
|o 2-000636
|p 13820000850419
|r 2023-03-16
|w 2021-04-04
|y 1
|