Применение нейросетевых алгоритмов анализа изображений материалов в рентгеновских микротомографах

Применение нейросетевых алгоритмов анализа изображений материалов в рентгеновских микротомографах

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 10/2. С. 29-34
Main Author: Сырямкин, Владимир Иванович
Corporate Authors: Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Кафедра управления качеством, Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Научные подразделения ФИТ
Other Authors: Горбачев, Сергей Викторович
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
томограммы
нейронные сети
нейросетевые алгоритмы
анализ изображений
рентгеновская микротомография
статьи в журналах
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000477838
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items

Similar Items