Материаловедение и технологии электроники учебное пособие : [для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки 11.03.04 (210100) "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 (222900) "Нанотехнологии и микросистемная техника", 12.03.02 (200400) "Оптотехника", 27.03.01 (221700) "Стандартизация и метрология", 11.03.03 (211000) "Конструирование и технология электронных средств", 12.03.01 (200100) "Приборостроение", 20.04.01 (280700) "Техносферная безопасность", 12.05.01 (200401) "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения"]

Bibliographic Details
Main Author:	Капустин, Владимир Иванович 1948-
Other Authors:	Сигов, Александр Сергеевич 1945-
Format:	Book
Language:	Russian
Published:	Москва ИНФРА-М 2014
Series:	Высшее образование Бакалавриат Электронно-библиотечная система "Znanium.com"
Subjects:	радиотехнические материалы Радиоэлектронная аппаратура > Производство учебные издания для вузов. физико-химический анализ. состав-свойство, диаграммы твердые тела. атомные структуры твердые тела кристаллические, структура дефекты кристаллической структуры. дефекты точечные. дефекты линейные упрочнение кристаллов границы зерен, сегрегация межатомные связи Ван-дер-Ваальса связь физикохимия свойств материалов энергия связи молекул. точечные дефекты оксидные материалы. твердые растворы, структура промежуточные фазы, структура диффузия в материалах фазовые превращения. изменение структуры материалов изменение свойств материалов материалы электронной техники. конструкционные материалы. материалы физической электроники материалы микроэлектроники материалы с особыми свойствами технологии электроники исследования материалов, методы аналитические методы. электронная спектроскопия. Оже-электронная спектроскопия масс-спектроскопия приборы электронной спектроскопии испытания материалов, методы
Online Access:	Перейти в каталог НБ ТГУ


LEADER	05471nam a2200853 c 4500
001	vtls000502571
003	RU-ToGU
005	20240701164305.0
008	150723s2014 ru a b 000 0 rus d
020			\|a 9785161012208
020			\|a 9785160089669
035			\|a to000502571
039		9	\|a 201507231541 \|b 100 \|c 201504021700 \|d cat40 \|c 201504021047 \|d cat20 \|c 201504011342 \|d cat33 \|y 201504011334 \|z Александр Эльверович Гилязов
040			\|a RuMoRGB \|b rus \|e rcr \|d RU-ToGU
041	0		\|a rus
080			\|a 620.22-022.532:620.18(075.8)
080			\|a 621.38:620.22-022.532(075.8)
084			\|a З843я73-1 \|2 rubbk
084			\|a З844-06я73-1 \|2 rubbk
100	1		\|a Капустин, Владимир Иванович \|d 1948- \|9 97837
245	1	0	\|a Материаловедение и технологии электроники \|b учебное пособие : [для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки 11.03.04 (210100) "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 (222900) "Нанотехнологии и микросистемная техника", 12.03.02 (200400) "Оптотехника", 27.03.01 (221700) "Стандартизация и метрология", 11.03.03 (211000) "Конструирование и технология электронных средств", 12.03.01 (200100) "Приборостроение", 20.04.01 (280700) "Техносферная безопасность", 12.05.01 (200401) "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения"] \|c В. И. Капустин, А. С. Сигов
260			\|a Москва \|b ИНФРА-М \|c 2014 \|9 687450
300			\|a 425, [1] с. \|b ил., табл.
490	1		\|a Высшее образование. Бакалавриат
490	1		\|a Электронно-библиотечная система "Znanium.com"
500			\|a Допущено УМО вузов по университетскому политехническому образованию
504			\|a Библиогр.: с. 419-422
650		7	\|a радиотехнические материалы \|2 nlr_sh \|9 424866
650		7	\|a Радиоэлектронная аппаратура \|x Производство \|2 nlr_sh \|9 214211
653			\|a учебные издания для вузов.
653			\|a физико-химический анализ.
653			\|a состав-свойство, диаграммы
653			\|a твердые тела.
653			\|a атомные структуры
653			\|a твердые тела кристаллические, структура
653			\|a дефекты кристаллической структуры.
653			\|a дефекты точечные.
653			\|a дефекты линейные
653			\|a упрочнение кристаллов
653			\|a границы зерен, сегрегация
653			\|a межатомные связи
653			\|a Ван-дер-Ваальса связь
653			\|a физикохимия свойств материалов
653			\|a энергия связи молекул.
653			\|a точечные дефекты
653			\|a оксидные материалы.
653			\|a твердые растворы, структура
653			\|a промежуточные фазы, структура
653			\|a диффузия в материалах
653			\|a фазовые превращения.
653			\|a изменение структуры материалов
653			\|a изменение свойств материалов
653			\|a материалы электронной техники.
653			\|a конструкционные материалы.
653			\|a материалы физической электроники
653			\|a материалы микроэлектроники
653			\|a материалы с особыми свойствами
653			\|a технологии электроники
653			\|a исследования материалов, методы
653			\|a аналитические методы.
653			\|a электронная спектроскопия.
653			\|a Оже-электронная спектроскопия
653			\|a масс-спектроскопия
653			\|a приборы электронной спектроскопии
653			\|a испытания материалов, методы
700	1		\|a Сигов, Александр Сергеевич \|d 1945- \|9 97838
830		0	\|a Высшее образование \|p Бакалавриат \|9 91313
830		0	\|a Электронно-библиотечная система "Znanium.com" \|9 109807
852	4		\|a RU-ToGU \|h 620.22 \|i К207 \|n ru
856			\|y Перейти в каталог НБ ТГУ \|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=368617
908			\|a учебник
999			\|c 368617 \|d 368617
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 62022_К207 \|7 0 \|9 605472 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10005 \|d 2021-04-04 \|g 545.82 \|l 0 \|o 620.22 К207 \|p 13820000890571 \|r 2023-08-24 \|t 1 \|w 2021-04-04 \|y 9
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 62_К207 \|7 0 \|9 605473 \|a RU-ToGU \|c 10030 \|d 2021-04-04 \|g 545.82 \|o 62 К207 \|p 13820000890572 \|r 2021-04-04 \|t 2 \|y 4

Similar Items