Оптические свойства аморфных тонких пленок материалов фазовой памяти Ge-Sb-Te
Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 57, № 7/2. С. 67-73 |
---|---|
Corporate Authors: | Томский государственный университет Научное управление Лаборатории НУ, Томский государственный университет Химический факультет Кафедра неорганической химии |
Other Authors: | Козюхин, Сергей Александрович, Нгуен Хуи Фук, Цэндин, Константин Дамдинович, Козик, Владимир Васильевич 1947-2021 |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000516052 Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
- Электрофизические свойства тонких пленок системы Ge-Sb-Te для устройств фазовой памяти
-
Стабильность характеристик сенсоров водорода на основе тонких пленок Pt/Pd/Sn02:Sb,Y
by: Ким, Станислав Витальевич -
Влияние содержания сурьмы на электрические и газочувствительные свойства тонких пленок Pt(Pd)/SnO2
by: Анисимов, Олег Викторович - Синтез эпитаксиальных пленок на базе материалов Ge-Si-Sn с гетеропереходами Ge/GeSn, Ge/GeSiSn, GeSn/GeSiSn
- Synthesis of epitaxial films based on Ge-Si-Sn materials with Ge/GeSn, Ge/GeSiSn, and GeSn/GeSiSn heterojunctions