Исследование распределения поверхностного потенциала эпитаксиальных пленок CdHgTe
Published in: | Нанофизика и наноэлектроника : труды XIX Международного симпозиума, 10-14 марта 2015 г., Нижний Новгород Т. 2, секция 3. С. 601-602 |
---|---|
Other Authors: | Новиков, Вадим Александрович, Войцеховский, Александр Васильевич, Дворецкий, Сергей Алексеевич, Михайлов, Николай Николаевич физик, Григорьев, Денис Валерьевич |
Format: | Book Chapter |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000550264 |
Similar Items
-
Исследование поверхностного потенциала в области V-дефекта эпитаксиальной пленки МЛЭ КРТ
by: Новиков, Вадим Александрович - Радиационные эффекты в HgCdTe
- Electrical properties of the V-defects of epitaxial HgCdTe
- Influence of composition of Hg1-xCdxTe(x = 0.22-0.57) epitaxial film on dynamics of accumulation and spatial distribution of electrically active radiation defects after boron implantation
- Electrical profiling of arsenic-implanted HgCdTe films performed with discrete mobility spectrum analysis