Кузнецов, О. Ю., & Шаршунов, С. Г. Подход к проблеме функционального тестирования управляющего оборудования RISC-микропроцессоров. Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г.), 0180-76760(Томск, 2002), .
Chicago Style (17th ed.) CitationКузнецов, О. Ю., and Сергей Георгиевич Шаршунов. "Подход к проблеме функционального тестирования управляющего оборудования RISC-микропроцессоров." Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г.) 0180-76760, no. Томск, 2002 ().
MLA (8th ed.) CitationКузнецов, О. Ю., and Сергей Георгиевич Шаршунов. "Подход к проблеме функционального тестирования управляющего оборудования RISC-микропроцессоров." Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г.), vol. 0180-76760, no. Томск, 2002, .