Структура, микрорельеф и оптические свойства пленок железа, полученных методом термического испарения в вакууме

В данной работе исследованы структура, микрорельеф и оптические свойства толстых, непрозрачных и тонких, полупрозрачных пленок железа, нанесенных на подложки из плавленого кварца и кремния методом термического испарения. Исследования структуры методом дифракции электронов высокой энергии на отраж...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Фундаментальные проблемы современного материаловедения Т. 12, № 3. С. 338-345
Other Authors: Атучин, Виктор Валерьевич, Покровский, Лев Дмитриевич, Солдатенков, Иван Степанович, Троицкая, Ирина Баязитовна, Кожухов, Антон Сергеевич, Кручинин, Владимир Николаевич, Кочубей, Василий Александрович
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000671649
Перейти в каталог НБ ТГУ
LEADER 04367nab a2200385 c 4500
001 vtls000671649
003 RU-ToGU
005 20240227172845.0
007 cr |
008 191210|2015 ru s c rus d
035 |a to000671649 
039 9 |a 201912131823  |b 100  |c 201912101113  |d VLOAD  |y 201912101106  |z Александр Эльверович Гилязов 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Структура, микрорельеф и оптические свойства пленок железа, полученных методом термического испарения в вакууме  |c В. А. Кочубей, В. В. Атучин, Л. Д. Покровский [и др.] 
504 |a Библиогр.: 21 назв. 
520 3 |a В данной работе исследованы структура, микрорельеф и оптические свойства толстых, непрозрачных и тонких, полупрозрачных пленок железа, нанесенных на подложки из плавленого кварца и кремния методом термического испарения. Исследования структуры методом дифракции электронов высокой энергии на отражение показали, что поверхностный слой пленок железа является мелкокристаллическим поликристаллом железа (пр. группа симметрии Im3m) с выраженной текстурой. Кроме того, установлено присутствие очень слабой примеси кристаллов Fe2O3 (пр. группа симметрии Ia3). Методом атомной силовой микроскопии установлено, что поверхность пленок железа на кремнии является оптически гладкой с максимальным размером шероховатостей не превышающим 12-15 нм. Исследования оптических свойств пленок железа методом спектральной эллипсометрии позволили получить дисперсионные кривые показателя преломления, n(λ), и коэффициента поглощения, k(λ), в диапазоне длин волн λ = 250-1100 нм, как для толстых, так и для тонких пленок. Спектральные зависимости n(l) и k(l) пленок обоих типов оказались близки и качественно соответствовали типичным кривым n(l) и k(l) для металлов. Толщина полупрозрачных пленок измерялась методом лазерной эллисометрии на длине волны λ = 632,8 нм. 
653 |a пленки железа 
653 |a термическое испарение 
653 |a микрорельеф 
653 |a кристаллическая структура 
653 |a оптические свойства 
655 4 |a статьи в журналах  |9 879358 
700 1 |a Атучин, Виктор Валерьевич  |9 90599 
700 1 |a Покровский, Лев Дмитриевич  |9 493976 
700 1 |a Солдатенков, Иван Степанович  |9 493977 
700 1 |a Троицкая, Ирина Баязитовна  |9 493978 
700 1 |a Кожухов, Антон Сергеевич  |9 296632 
700 1 |a Кручинин, Владимир Николаевич  |9 94828 
700 1 |a Кочубей, Василий Александрович  |9 493979 
773 0 |t Фундаментальные проблемы современного материаловедения  |d 2015  |g Т. 12, № 3. С. 338-345  |x 1811-1416  |w 0210-45460 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000671649 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=452732 
908 |a статья 
999 |c 452732  |d 452732