Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]

Bibliographic Details
Main Author:	Брандон, Дэвид
Other Authors:	Каплан, У., Баженов, Сергей Леонидович (Editor)
Format:	Book
Language:	Russian
Published:	Москва Техносфера 2006
Series:	Мир материалов и технологий
Subjects:	учебные пособия для вузов наноматериалы кристаллические структуры кристаллические решетки электронная микроскопия микроскоп туннельный сканирующий дислокации нанозернистые структуры Миллера индексы дифракционный анализ Лауэ уравнение Брэгга уравнение рассеяние излучения кристаллами дифракция электронов нанопокрытия многослойные оптическая микроскопия геометрическая оптика микроскоп оптический стали цветных металлов сплавы цветных металлов полупроводники керамики интерметаллы композиционные материалы оптическая анизотропия интерференционная микроскопия микроскопы растровые микроскопы просвечивающие линзы микроскопа дифрактограммы решетки дифракция динамическая атомные решетки электронная микроскопия растровая электронные пучки электроны отраженные электроны вторичные наночастицы, изображения химический анализ поверхности стереология катодолюминесценция фрактография напыление покрытия рентгеновский микроанализ тонкие пленки микроанализ керамика поликристаллическая микроструктуры автоматизированный анализ Оже-электроны ионная масс-спектрометрия конструкционная сталь 1040

Description
Physical Description:	377 с. ил.
Bibliography:	Предм. указ.: с. 376-377
ISBN:	5948360180

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]

Similar Items