Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]

Bibliographic Details
Main Author:	Брандон, Дэвид
Other Authors:	Каплан, У., Баженов, Сергей Леонидович (Editor)
Format:	Book
Language:	Russian
Published:	Москва Техносфера 2006
Series:	Мир материалов и технологий
Subjects:	учебные пособия для вузов наноматериалы кристаллические структуры кристаллические решетки электронная микроскопия микроскоп туннельный сканирующий дислокации нанозернистые структуры Миллера индексы дифракционный анализ Лауэ уравнение Брэгга уравнение рассеяние излучения кристаллами дифракция электронов нанопокрытия многослойные оптическая микроскопия геометрическая оптика микроскоп оптический стали цветных металлов сплавы цветных металлов полупроводники керамики интерметаллы композиционные материалы оптическая анизотропия интерференционная микроскопия микроскопы растровые микроскопы просвечивающие линзы микроскопа дифрактограммы решетки дифракция динамическая атомные решетки электронная микроскопия растровая электронные пучки электроны отраженные электроны вторичные наночастицы, изображения химический анализ поверхности стереология катодолюминесценция фрактография напыление покрытия рентгеновский микроанализ тонкие пленки микроанализ керамика поликристаллическая микроструктуры автоматизированный анализ Оже-электроны ионная масс-спектрометрия конструкционная сталь 1040


LEADER	05357nam a2200997 i 4500
001	vtls000213337
003	RU-ToGU
005	20230215101703.0
008	120827s2006 ru a 001 0 rus d
020			\|a 5948360180
035			\|a to000213337
040			\|a RU-ToGU \|b rus \|c RU-ToGU
080			\|a 538.91:621.385.833(075.8)
080			\|a 620.186.8(075.8)
080			\|a 539.25(075.8)
100	1		\|a Брандон, Дэвид
245	1	0	\|a Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля \|b [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"] \|c Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова, с доп. О. В. Егоровой
260			\|a Москва \|b Техносфера \|c 2006
300			\|a 377 с. \|b ил.
490	1		\|a Мир материалов и технологий \|v VI-02
504			\|a Предм. указ.: с. 376-377
653			\|a учебные пособия для вузов
653			\|a наноматериалы
653			\|a кристаллические структуры
653			\|a кристаллические решетки
653			\|a электронная микроскопия
653			\|a микроскоп туннельный сканирующий
653			\|a дислокации
653			\|a нанозернистые структуры
653			\|a Миллера индексы
653			\|a дифракционный анализ
653			\|a Лауэ уравнение
653			\|a Брэгга уравнение
653			\|a рассеяние излучения кристаллами
653			\|a дифракция электронов
653			\|a нанопокрытия многослойные
653			\|a оптическая микроскопия
653			\|a геометрическая оптика
653			\|a микроскоп оптический
653			\|a стали цветных металлов
653			\|a сплавы цветных металлов
653			\|a полупроводники
653			\|a керамики
653			\|a интерметаллы
653			\|a композиционные материалы
653			\|a оптическая анизотропия
653			\|a интерференционная микроскопия
653			\|a микроскопы растровые
653			\|a микроскопы просвечивающие
653			\|a линзы микроскопа
653			\|a дифрактограммы решетки
653			\|a дифракция динамическая
653			\|a атомные решетки
653			\|a электронная микроскопия растровая
653			\|a электронные пучки
653			\|a электроны отраженные
653			\|a электроны вторичные
653			\|a наночастицы, изображения
653			\|a химический анализ поверхности
653			\|a стереология
653			\|a катодолюминесценция
653			\|a фрактография
653			\|a напыление покрытия
653			\|a рентгеновский микроанализ
653			\|a тонкие пленки
653			\|a микроанализ
653			\|a керамика поликристаллическая
653			\|a микроструктуры
653			\|a автоматизированный анализ
653			\|a Оже-электроны
653			\|a ионная масс-спектрометрия
653			\|a конструкционная сталь 1040
700	1		\|a Каплан, У.
700	1		\|a Баженов, Сергей Леонидович \|4 edt
830		0	\|a Мир материалов и технологий
852	4		\|a RU-ToGU \|h 53 \|i Б874 \|n ru
908			\|a учебник
999			\|c 486288 \|d 486288
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 53_Б874 \|7 0 \|a RU-ToGU \|c 10023 \|d 2021-04-05 \|g 275.00 \|o 53 Б874 \|p 13820000611798 \|r 2021-04-05 \|t 1 \|y 5
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 62_Б874 \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10021 \|d 2021-04-05 \|g 275.00 \|l 1 \|m 2 \|o 62 Б874 \|p 13820000611799 \|q 2025-04-14 \|r 2023-09-13 \|s 2023-09-13 \|t 2 \|y 5
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 53_Б874 \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10021 \|d 2021-04-05 \|g 220.00 \|l 0 \|o 53 Б874 \|p 13820000558752 \|r 2024-04-15 \|t 9 \|w 2021-04-05 \|y 5
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 53_Б874 \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10021 \|d 2021-04-05 \|g 220.00 \|l 1 \|m 1 \|o 53 Б874 \|p 13820000558757 \|r 2024-04-15 \|s 2022-12-09 \|t 14 \|w 2021-04-05 \|y 5
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 2043160 \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10024 \|d 2021-04-05 \|g 220.00 \|l 0 \|o 2-043160 \|p 13820000558763 \|r 2024-01-23 \|t 20 \|w 2021-04-05 \|y 4
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|5 1 \|6 53_Б874 \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 20000 \|d 2021-04-05 \|f 7713 \|g 220.00 \|l 0 \|o 53 Б874 \|p 13820000558766 \|r 2021-04-05 \|w 2021-04-05 \|y 5
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 539_Б874 \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10005 \|d 2021-04-05 \|g 220.00 \|l 0 \|o 539 Б874 \|p 13820000558764 \|r 2023-08-15 \|w 2021-04-05 \|y 3
952			\|0 0 \|1 0 \|4 0 \|6 1942676К \|7 0 \|a RU-ToGU \|b RU-ToGU \|c 10024 \|d 2021-04-05 \|g 220.00 \|l 0 \|o 1-942676к \|p 13820000558765 \|r 2021-04-05 \|w 2021-04-05 \|y 1

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]

Similar Items