Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]

Show other versions (1)

Bibliographic Details
Main Author:	Брандон, Дэвид
Other Authors:	Каплан, У., Баженов, Сергей Леонидович (Editor)
Format:	Book
Language:	Russian
Published:	Москва Техносфера 2006
Series:	Мир материалов и технологий
Subjects:	учебные пособия для вузов наноматериалы кристаллические структуры кристаллические решетки электронная микроскопия микроскоп туннельный сканирующий дислокации нанозернистые структуры Миллера индексы дифракционный анализ Лауэ уравнение Брэгга уравнение рассеяние излучения кристаллами дифракция электронов нанопокрытия многослойные оптическая микроскопия геометрическая оптика микроскоп оптический стали цветных металлов сплавы цветных металлов полупроводники керамики интерметаллы композиционные материалы оптическая анизотропия интерференционная микроскопия микроскопы растровые микроскопы просвечивающие линзы микроскопа дифрактограммы решетки дифракция динамическая атомные решетки электронная микроскопия растровая электронные пучки электроны отраженные электроны вторичные наночастицы, изображения химический анализ поверхности стереология катодолюминесценция фрактография напыление покрытия рентгеновский микроанализ тонкие пленки микроанализ керамика поликристаллическая микроструктуры автоматизированный анализ Оже-электроны ионная масс-спектрометрия конструкционная сталь 1040

Similar Items

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"]
by: Брандон, Дэвид
Published: (2004)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля учебное пособие для студентов по направлению подготовки "Прикладные математика и физика"
by: Брандон, Д.
Published: (2006)

Приборы и методы физического металловедения Пер. с англ.
Published: (1974)

Сканирующие зондовые микроскопы справочник
by: Казаков, Валерий Димитриевич
Published: (2024)

Неустойчивое состояние кристаллической решетки α-Ti в поверхностных слоях образцов титановых сплавов, обработанных низкоэнергетическим сильноточным импульсным электронным пучком
by: Перевалова, Ольга Борисовна

Микроанализ и растровая электронная микроскопия
Published: (1985)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
Published: (2011)

Авто-, термо- и вторично-электронная эмиссионная спектроскопия
by: Модинос, Антонис
Published: (1990)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [учебное пособие для вузов по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"]
Published: (2009)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей [учебное пособие по дисциплине "Физические методы исследования материалов" для вузов по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) "Материаловедение и технология новых материалов" и по специальностям 150601 (071000) "Материаловедение и технология новых материалов и 150501(120800) "Материаловедение в машиностроении" ]
by: Батаев, Владимир Андреевич
Published: (2006)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию
by: Эгертон, Рэй Ф.
Published: (2010)

Нанодиполи частичных дисклинаций и механизм локализации деформации наноструктурных материалов в упругой области

Электронная микроскопия для начинающих
by: Уикли, Бренда С
Published: (1975)

Физические методы исследования материалов учебно-методическое пособие : [для студентов вузов, обучающихся по программе "15.03.03 Прикладная механика" и смежным направлениям и по программам "Радиофизика", "Оптотехника", "Физика", "Химия"]
by: Химич, Маргарита Андреевна
Published: (2023)

Влияние параметров квантовых точек на характеристики системы материалов Si/Ge
by: Торопов, Никита Александрович

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
by: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Published: (2004)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
by: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Published: (2005)

Mikrographie oder Anleitung zur Kenntniss und zum Gebrauche des Mikroskops/
by: Mohl, H.
Published: (1846)

Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии
by: Валиев, Руслан Зуфарович
Published: (1991)

Эволюция кривизны кристаллической решетки в металлических материалах на мезо- и наноструктурном уровнях пластической деформации

Микроскопические методы исследования материалов
by: Кларк, Эшли Р.
Published: (2007)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий методы и применение
Published: (2016)

Микроскопическая техника учебное пособие для высших учебных заведений
by: Роскин, Григорий Иосифович
Published: (1957)

Mikroskope und mikroskopische Hilfsapparate/
by: Zeiss, C.
Published: (1895)

Электронная микроскопия в цитологических исследованиях [методическое пособие для студентов 4-го курса биологического отделения факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии в рамках "Большого цитологического практикума"]
by: Морозова, Ксения Николаевна
Published: (2013)

Основы ботанической микротехники учебное пособие : [для студентов, обучающихся по специальности 060108 (040500 - "Фармация"]
by: Круглов, Дмитрий Семенович
Published: (2008)

Эмиссионный спектральный микроанализ
by: Королев, Николай Васильевич
Published: (1971)

Введение в физику поверхности
Published: (2006)

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Published: (2014)

Трёхмерная электронная микроскопия в реальном времени
by: Зевайль, Ахмед
Published: (2013)

Кинетические явления в сплошных средах учебное пособие
by: Астанин, Александр Владимирович 1979-
Published: (2011)

Как работать со световым микроскопом
by: Кэррил, Ф. М.
Published: (2010)

Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия [учебник для вузов по специальностям "Физика металлов" и "Металловедение, оборудование и технология термической обработки металлов"
Published: (1982)

Микроскопия в науке и технике
by: Суворов, Александр Леонидович
Published: (1981)

Физика твердого тела Лабораторный практикум: [Учебное пособие для физических специальностей вузов]
Published: (2001)

Нанометрология
by: Сергеев, Алексей Георгиевич 1940-
Published: (2011)

Нанометрология
by: Сергеев, Алексей Георгиевич 1940-
Published: (2012)

Site occupation of Nb atoms in ternary Ni-Ti-Nb shape memory alloys

Application of novel hybrid methods in SPM studies of nanostructural materials
by: Lohmus, Runno
Published: (2002)

Numerical modeling and experimental investigation of the breadboard model of a near-field interference microscope
by: Belichenko, Viktor P.