LEADER 01776nab a2200337 i 4500
001 vtls000435177
003 RU-ToGU
005 20241119170710.0
007 cr |
008 170612 2012 ru s c rus d
035 |a to000435177 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Экспериментальное и численное исследования двух механизмов формирования пучков убегающих электронов  |c Е. Х. Бакшт, С. Я. Беломытцев, А. Г. Бураченко [и др.] 
504 |a Библиогр.: 16 назв. 
653 |a убегающие электроны 
653 |a пучки электронов 
653 |a численное моделирование 
653 |a электрический пробой 
655 4 |a статьи в журналах 
700 1 |a Беломытцев, Святослав Яковлевич 
700 1 |a Бураченко, Александр Геннадьевич 
700 1 |a Рыжов, Виктор Васильевич 
700 1 |a Тарасенко, Виктор Федотович 
700 1 |a Шкляев, Валерий Александрович 
700 1 |a Бакшт, Евгений Хаимович 
710 2 |a Томский государственный университет  |b Радиофизический факультет  |b Кафедра квантовой электроники и фотоники 
773 0 |t Журнал технической физики  |d 2012  |g Т. 82, вып. 7. С. 102-106  |x 0044-4642  |w 0028-41360 
852 4 |a RU-ToGU 
856 7 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000435177 
908 |a статья 
999 |c 502409  |d 502409