|
|
|
|
LEADER |
01776nab a2200337 i 4500 |
001 |
vtls000435177 |
003 |
RU-ToGU |
005 |
20241119170710.0 |
007 |
cr | |
008 |
170612 2012 ru s c rus d |
035 |
|
|
|a to000435177
|
040 |
|
|
|a RU-ToGU
|b rus
|c RU-ToGU
|
245 |
1 |
0 |
|a Экспериментальное и численное исследования двух механизмов формирования пучков убегающих электронов
|c Е. Х. Бакшт, С. Я. Беломытцев, А. Г. Бураченко [и др.]
|
504 |
|
|
|a Библиогр.: 16 назв.
|
653 |
|
|
|a убегающие электроны
|
653 |
|
|
|a пучки электронов
|
653 |
|
|
|a численное моделирование
|
653 |
|
|
|a электрический пробой
|
655 |
|
4 |
|a статьи в журналах
|
700 |
1 |
|
|a Беломытцев, Святослав Яковлевич
|
700 |
1 |
|
|a Бураченко, Александр Геннадьевич
|
700 |
1 |
|
|a Рыжов, Виктор Васильевич
|
700 |
1 |
|
|a Тарасенко, Виктор Федотович
|
700 |
1 |
|
|a Шкляев, Валерий Александрович
|
700 |
1 |
|
|a Бакшт, Евгений Хаимович
|
710 |
2 |
|
|a Томский государственный университет
|b Радиофизический факультет
|b Кафедра квантовой электроники и фотоники
|
773 |
0 |
|
|t Журнал технической физики
|d 2012
|g Т. 82, вып. 7. С. 102-106
|x 0044-4642
|w 0028-41360
|
852 |
4 |
|
|a RU-ToGU
|
856 |
7 |
|
|u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000435177
|
908 |
|
|
|a статья
|
999 |
|
|
|c 502409
|d 502409
|