Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристалах на основе эффекта Бормана
Main Author: | Данильчук, Леонид Нестерович |
---|---|
Other Authors: | Окунев, Алексей Олегович, Ткаль, Валерий Алексеевич |
Format: | Book |
Language: | Russian |
Published: |
Великий Новгород
[б. и.]
2006
|
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
-
Цифровая обработка рентгенотопографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллов
Published: (2004) -
Исследование дефектов структуры монокристаллического карбида кремния прямыми физическими методами монография
by: Окунев, Алексей Олегович
Published: (2006) -
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : программа и тезисы докладов Второго научного семинара с международным участием, 26-28 мая 2004 г.
Published: (2004) -
Рост и легирование полупроводниковых кристаллов и пленок [сборник статей]
Published: (1977) -
Переходные области эпитаксиальных полупроводниковых пленок
by: Александров, Леонид Наумович
Published: (1978)