LEADER 02653nam a2200481 i 4500
001 vtls000242259
003 RU-ToGU
005 20210910080559.0
008 080314s1986 bw a f b 001 0 rus d
035 |a to000242259 
039 9 |a 200803181445  |c 200803181400  |d cat31  |y 200803141224  |z Александр Эльверович Гилязов 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
080 |a 621.382.049.77:539.1.04 
100 1 |a Коршунов, Федор Павлович  |9 542140 
245 1 0 |a Воздействие радиации на интегральные микросхемы  |c Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, В. А. Вавилов ; Акад. наук БССР, Ин-т физики твердого тела и полупроводников 
260 |a Минск  |b Наука и техника  |c 1986  |9 687945 
300 |a 253, [1] с.  |b рис., табл. 
504 |a Библиогр.: с. 233-248 
504 |a Предм. указ.: с. 249-250 
653 |a микроэлектронные схемы интегральные 
653 |a ионизирующие излучения 
653 |a радиационные дефекты 
653 |a смещение атомов 
653 |a твердые тела 
653 |a кремний 
653 |a арсенид галлия 
653 |a интегральные микросхемы биполярные 
653 |a МДП-транзисторы 
653 |a МДП интегральные микросхемы 
653 |a радиационная стойкость 
653 |a проникающие излучения 
653 |a легирование полупроводников ядерное 
653 |a диффузия в полупроводниках 
653 |a технология полупроводниковых приборов 
653 |a технология интегральных микросхем 
653 |a литография 
700 1 |a Богатырев, Юрий Владимирович.  |9 542141 
700 1 |a Вавилов, Владимир Алексеевич.  |9 542142 
852 4 |a RU-ToGU  |n ru 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=519195 
999 |c 519195  |d 519195 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 1595128К  |7 0  |9 773663  |a RU-ToGU  |b RU-ToGU  |c 10024  |d 2021-04-05  |g 2.80  |l 0  |o 1-595128к  |p 13820000641946  |r 2021-04-05  |w 2021-04-05  |y 1 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |6 1605981  |7 0  |9 773664  |a RU-ToGU  |b RU-ToGU  |c 10024  |d 2021-04-05  |g 2.80  |l 0  |o 1-605981  |p 13820000635599  |r 2021-04-05  |w 2021-04-05  |y 4