Изучение процесса окисления поверхности Pt3Ti (510) методом сканирующей туннельной микроскопии
Опубликовано в: : | Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования № 9. С. 8-11 |
---|---|
Соавтор: | Томский государственный университет Химический факультет Научные подразделения ХФ |
Другие авторы: | Atrei, A., Cortigiani, В., Rovida, G., Bardi, U., Курзина, Ирина Александровна |
Формат: | Статья в журнале |
Язык: | Russian |
Предметы: | |
Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000465469 |
Похожие документы
-
Применение сканирующей туннельной микроскопии для исследования ростовых поверхностей полупроводников
по: Хруль, М. В. -
Исследование наноразмерных проводящих каналов в полимерной пленке методом сканирующей туннельной микроскопии
по: Корнилов, В. М. -
Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
по: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Публикация: (2005) -
Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
по: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Публикация: (2004) - Unoccupied topological surface state in Bi2Te2Se