Digital 3D X-ray microtomographic scanners for electronic equipment testing
| Published in: | Интеллектуальные системы 4-й промышленной революции : сборник материалов III Международного форума, г. Томск, 26-27 ноября 2019 г. С. 134-136 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | English |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000567369 Перейти в каталог НБ ТГУ |