Анализ и обработка изображений анодного оксида алюминия, полученных методом атомно-силовой микроскопии

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) - уникальный метод, позволяющий увидеть и измерить структуру поверхности образца быстро, с высокими раз-решением и точностью. За последние 20 с лишним лет своего существования метод АСМ открыл широкие возможности для всестороннего изучения мор-фологии и различных л...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Вестник Томского государственного университета. Химия № 19. С. 14-20
Main Author: Гришанков, Алексей Артурович
Other Authors: Воронова, Гульнара Альфридовна
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000718988
Перейти в каталог НБ ТГУ
LEADER 05684nab a2200349 c 4500
001 koha000718988
005 20231225173619.0
007 cr |
008 210930|2020 ru s c rus d
024 7 |a 10.17223/24135542/19/2  |2 doi 
035 |a koha000718988 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
100 1 |a Гришанков, Алексей Артурович  |9 757989 
245 1 0 |a Анализ и обработка изображений анодного оксида алюминия, полученных методом атомно-силовой микроскопии  |c А. А. Гришанков, Г. А. Воронова 
246 1 1 |a Analysis and processing of AFM images of anodic aluminum oxide 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 4 назв. 
520 3 |a Атомно-силовая микроскопия (АСМ) - уникальный метод, позволяющий увидеть и измерить структуру поверхности образца быстро, с высокими раз-решением и точностью. За последние 20 с лишним лет своего существования метод АСМ открыл широкие возможности для всестороннего изучения мор-фологии и различных локальных свойств поверхности. Несомненные преимуще-ства АСМ включают: 1) возможность проведения исследований в широком диапазоне темпера-тур на воздухе, в вакууме, в жидких и газообразных средах;2) отсутствие ограничений, связанных с проводимостью образца; 3) возможность проведения прецизионных измерений топографии поверх-ности, перекрывающих по длине несколько порядков; 4) потенциал микроскопа как инструмента для локальной модификации поверхности. При разработке новых АСМ-методик часто приходится сталкиваться с рядом проблем: 1) проблема влияния на результаты измерений факторов различного про-исхождения (аппаратных или методических); 2) проблема интерпретации АСМ-изображений, полученных при разных режимах и в разных условиях; 3) проблема метрологического обеспечения АСМ-измерений, связанная с получением надежных количественных характеристик, позволяющих наибо-лее полно и адекватно описать свойства микрорельефа поверхности. Важной задачей остаются обработка и анализ полученных АСМ-изобра-жений. Зачастую сделать хорошее изображение не получается, так как его качество может снижаться под влиянием множества факторов, таких как состояние зонда микроскопа, время сканирования, условия сканирования, раз-личного рода помехи и т.д. Для получения качественного изображения прибе-гают к специальным методам и различным программам обработки. В данной работе показано, как происходят анализ и обработка изображе-ний, полученных на атомно-силовом микроскопе. Рассмотрены методы получе-ния качественных АСМ-изображений с использованием различного программно-го обеспечения. Представлены исходные и обработанные АСМ-изображения анодного оксида алюминия: на исходных изображениях присутствуют арте-факты (программные дефекты при съемке), на обработанных изображениях артефакты минимизированы с помощью программного обеспечения. 
653 |a атомно-силовая микроскопия 
653 |a анодный оксид алюминия 
653 |a обработка АСМ-изображений 
653 |a артефакты АСМ-изображений 
655 4 |a статьи в журналах  |9 879358 
700 1 |a Воронова, Гульнара Альфридовна  |9 182881 
773 0 |t Вестник Томского государственного университета. Химия  |d 2020  |g  № 19. С. 14-20  |x 2413-5542  |w to000518048 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000718988 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=718988 
908 |a статья 
999 |c 718988  |d 718988 
039 |b 100