Доменная структура и процессы перемагничивания многослойных систем из тонких пленок пермаллоя с немагнитными прослойками

Микромагнитным моделированием многослойных тонкопленочных структур, состоящих из магнитных слоев, разделенных немагнитными прослойками, исследовано формирование доменной структуры и процессы перемагничивания. Магнитные слои из пермаллоя (Ni80Fe20) обладают одноосной в плоскости и перпендикулярной ма...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 64, № 6. С. 170-176
Other Authors: Беляев, Борис Афанасьевич, Боев, Никита Михайлович, Изотов, Андрей Викторович, Соловьев, Платон Николаевич
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000721345
LEADER 03551nab a2200325 c 4500
001 koha000721345
005 20240923132818.0
007 cr |
008 211115|2021 ru s c rus d
024 7 |a 10.17223/00213411/64/6/170  |2 doi 
035 |a koha000721345 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Доменная структура и процессы перемагничивания многослойных систем из тонких пленок пермаллоя с немагнитными прослойками  |c Б. А. Беляев, Н. М. Боев, А. В. Изотов, П. Н. Соловьев 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 30 назв. 
520 3 |a Микромагнитным моделированием многослойных тонкопленочных структур, состоящих из магнитных слоев, разделенных немагнитными прослойками, исследовано формирование доменной структуры и процессы перемагничивания. Магнитные слои из пермаллоя (Ni80Fe20) обладают одноосной в плоскости и перпендикулярной магнитной анизотропией. Обнаружено, что при уменьшении толщины прослоек планарная конфигурация магнитных моментов в пермаллоевых слоях трансформируется из однодоменного состояния в страйп-структуру, что обусловлено ростом магнитостатического взаимодействия слоев. В структурах с «толстыми» прослойками даже слабое магнитостатическое взаимодействие заставляет соседние однодоменные пермаллоевые слои иметь противоположную ориентацию магнитных моментов, при этом поле насыщения таких образцов линейно увеличивается с ростом количества слоев. Анализ динамических характеристик тонкопленочной структуры позволил определить оптимальное количество слоев, обеспечивающее максимальный коэффициент преобразования широкополосного микрополоскового СВЧ-датчика слабых магнитных полей. 
653 |a микромагнитное моделирование 
653 |a тонкие магнитные пленки 
653 |a доменные структуры 
655 4 |a статьи в журналах 
700 1 |a Беляев, Борис Афанасьевич 
700 1 |a Боев, Никита Михайлович 
700 1 |a Изотов, Андрей Викторович 
700 1 |a Соловьев, Платон Николаевич 
773 0 |t Известия высших учебных заведений. Физика  |d 2021  |g Т. 64, № 6. С. 170-176  |x 0021-3411  |w 0026-80960 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000721345 
908 |a статья 
999 |c 721345  |d 721345