Моделирование деградации фотоэлектрических преобразователей на основе арсенида галлия при воздействии потока высокоэнергетических электронов
Опубликовано в: : | Восьмая российская конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V". GaAs-2002, 1-4 октября 2002 г. : материалы конференции С. 366-367 |
---|---|
Другие авторы: | Юрченко, Алексей Васильевич, Зыков, Владимир Михайлович, Юнда, Николай Терентьевич, Бакин, Николай Николаевич, Лошманов, Д. А |
Формат: | Статья в сборнике |
Язык: | Russian |
Предметы: | |
Online-ссылка: | Перейти в каталог НБ ТГУ |
Похожие документы
- Радиационная стойкость GaAs ФЭП под действием высокоэнергетических электронов с энергией 3МэВ
- Эффективные источники поляризованных электронов на основе тонких напряженных слоев GaAsP
- Влияние технологических факторов на параметры солнечных элементов
- Автоматизация вакуумной обработки GaAs фотокатодов в промышленной установке сборки приборов
-
Тонкопленочные просветвляющие покрытия на основе Ta2O5 для солнечных элементов на GaAs
по: Чистоедова, Инна Анатольевна