| Summary: | В работе, состоящей из двух частей, подробно рассмотрен предложенный авторами метод дискретного анализа спектров подвижности и его применение для определения параметров носителей заряда в CdHgTe. Первая часть работы представляла собой краткий обзор существующих методов анализа полевых зависимостей коэффициента Холла и проводимости в структурах с многочастичным спектром носителей заряда. Во второй части работы исследованы некоторые свойства огибающей спектра подвижности в методе анализа спектров подвижности и представлены основная идея, особенности и алгоритм дискретного анализа спектров подвижности (ДAСП). На примере исследования электрических свойств ряда образцов эпитаксиальных пленок CdHgTe подтверждена высокая чувствительность метода ДАСП. С помощью ДАСП проведен анализ нескольких имеющихся в литературе зависимостей компонент тензора проводимости σxx и σxy от магнитного поля B, и результаты анализа сопоставлены с результатами, полученными другими методами.
|
|---|
