Теория и практика микроскопии эритроцита: монография/

Теория и практика микроскопии эритроцита: монография/

Показать другие варианты (1)

Библиографическая информация
Главные авторы:	Новицкий, В. В. патофизиология 19460823-20210107 Вячеслав Викторович (Редактор), Рязанцева, Н. В. патофизиология 19720207 Наталья Владимировна (Редактор), Степовая, Е. А. биохимия, патофизиология 19651013 Елена Алексеевна (Автор), Шевцова, Н. М. патофизиология 19620410 Наталья Михайловна (Автор), Миллер, А. А. Андрей Александрович (Автор), Зайцев, Б. Н. Борис Николаевич (Автор), Тишко, Т. В. Татьяна Васильевна (Автор), Титарь, В. П. Владимир Петрович (Автор), Тишко, Д. Н. Дмитрий Николаевич (Автор)
Соавтор:	Сибирский медицинский университет(Томск)21 Научный центр вирусологии и биотехнологии "Вектор"(М.)21 Научно-производственное объединение "Вирион"(Томск)21 Харьковский национальный университет им. В. Н. Каразина(Харьков) НИИ биологии
Формат:	Книга
Публикация:	Томск: Печатная мануфактура 2008
Предметы:	СВЕТООПТИЧЕСКОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ЛЮМИНЕСЦЕНТНАЯ МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Online-ссылка:	https://irbis64.ssmu.ru/cgi-bin/irbis64r_14/cgiirbis_64.exe?P21DBN=ELS&I21DBN=ELS&S21FMT=fullwebr&C21COM=S&2_S21P02=0&2_S21P03=I=&2_S21STR=-736664&S21STN=1&S21REF=10&S21CNR=20 Перейти в каталог НМБ СибГМУ

Похожие документы

Теория и практика микроскопии эритроцита: монография/
по: Новицкий, В. В. патофизиология 19460823-20210107 Вячеслав Викторович, et al.
Публикация: (2008)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
по: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Публикация: (2005)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
по: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Публикация: (2004)

Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching application to rough and natural surfaces
по: Kaupp, Gerd
Публикация: (2006)

Применение атомно-силовой микроскопии при исследовании структуры малоуглеродистой стали

Новая методика скриннинга активности противоопухолевых препаратов с использованием лазерной интерференционной микроскопии
по: Круковский, Константин Витальевич

Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
Публикация: (2011)

Введение в количественную цито-гистологическую морфологию: пер. с рум./
по: Ташкэ, К.
Публикация: (1980)

Исследование углеродистой стали методами атомно-силовой микроскопии
по: Попова, Екатерина Александровна

Изучение поверхности Si(111) методом атомно-силовой микроскопии
по: Родякина, Екатерина Евгеньевна

Исследование деформационного рельефа в керамике ZrO2(Y2O3) методами атомно-силовой микроскопии

Влияние структуры поверхности на величину среднего перепада высот при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии
по: Новиков, Вадим Александрович

Буллёзные дерматозы (вопросы клинико-морфологической диагностики и морфогенеза по данным электронной и атомно-силовой микроскопии)
Публикация: (2008)

Differentiation of breast normal and cancer cells by laser interference microscopy

Ближнепольная интерференционная СВЧ микроскопия в условиях нарушенного полного внутреннего отражения

Исследование методом атомно-силовой микроскопии влияния технологических обработок на состояние поверхности GaAs (100)
по: Тюхрин, Т. С.

Физические методы исследования материалов учебно-методическое пособие : [для студентов вузов, обучающихся по программе "15.03.03 Прикладная механика" и смежным направлениям и по программам "Радиофизика", "Оптотехника", "Физика", "Химия"]
по: Химич, Маргарита Андреевна
Публикация: (2023)

Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения

Микроскопия в науке и технике
по: Суворов, Александр Леонидович
Публикация: (1981)

Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом АСМ
по: Назарчук, Юлия Николаевна

Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом АСМ
по: Назарчук, Юлия Николаевна

Использование наноиндентации и атомно-силовой микроскопии для исследования поверхностных свойств углеводородных покрытий
по: Оскомов, Константин Владимирович

Атлас сканирующей электронной микроскопии клеток, тканей и органов: атлас/
Публикация: (1987)

Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии учебное пособие
по: Вознесенский, Э. Ф.
Публикация: (2014)

Примерная программа учебной дисциплины "Зондовые методы создания структур наноэлектроники"
Публикация: (2011)

Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии
по: Новиков, Вадим Александрович

Исследование рельефа и поверхностного потенциала эпитаксиальных пленок GaAs методом атомно-силовой микроскопии

Анализ и обработка изображений анодного оксида алюминия, полученных методом атомно-силовой микроскопии
по: Гришанков, Алексей Артурович

Исследование влияния размера зерна ZrO2(Y2O3)-керамики на твердость, вязкость разрушения и образование деформационного рельефа в зоне индентирования
по: Саблина, Татьяна Юрьевна

Исследование микроструктуры деформированного биметалла методом АСМ

Изучение распределения наноразмерных включений в 3D полимерных матрицах методом электронной и конфокальной микроскопии
по: Лапин, Иван Николаевич

Исследование методом просвечивающей микроскопии структурных особенностей порошка на основе никелида титана
по: Волочаев, Михаил Николаевич

Влияние температуры роста на статистические параметры морфологии поверхности GaN
по: Новиков, Вадим Александрович

Growth of CdWO4 crystals by the low thermal gradient Czochralski technique and the properties of a (010) cleaved surface

Воздействие водородной плазмы на поверхность монокристалла висмута
по: Марков, Олег Иванович

Формирование микроструктуры литий-титанового феррита при синтезе в пучке электронов 2.4 МэВ

Микроскопические методы исследования материалов
по: Кларк, Эшли Р.
Публикация: (2007)

Исследование распределения потенциала в детекторных структурах на основе GaAs методом Кельвин-зонд-микроскопии
по: Казтаев, О. Ж.

Controlling of Ge quantum dots arrays parameters in Ge/Si nanoheterostructures grown by molecular beam epitaxy method

Фрактальный анализ поверхностей тонких пленок
по: Панин, Алексей Викторович