Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии Учебно-методическая литература
Главный автор: | Величко, Александр Андреевич |
---|---|
Другие авторы: | Кольцов, Борис Борисович |
Формат: | Книга |
Язык: | Russian |
Публикация: |
Новосибирск
Новосибирский государственный технический университет (НГТУ)
2012
|
Предметы: | |
Online-ссылка: | ЭБС Знаниум ЭБС Знаниум Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |
Похожие документы
-
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии Учебно-методическая литература
по: Величко, А.А
Публикация: (2012) -
Наноматериалы Учебное пособие
по: Илюшин, В.А
Публикация: (2019) -
Цифровая микроэлектроника Учебное пособие
по: Дыбко, М.А
Публикация: (2019) -
Электроника. Проектирование источника питания микроэлектронных устройств Учебное пособие
по: Литвинов, И.И
Публикация: (2020) -
Основы микросенсорики Учебное пособие
по: Родионов, Ю.А
Публикация: (2019)