Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия учебное пособие
Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу "Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур", читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 "Материаловедение и технологии материа...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Book |
| Published: |
Москва
МИСиС
2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | ЭБС Консультант студента Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |
| Summary: | Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу "Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур", читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов" по программе "Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники". Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов" по программе "Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники". |
|---|---|
| Physical Description: | 84 c. |
| ISBN: | 9785876239822 |