Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества учебное пособие
В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены резул...
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | Russian |
| Published: |
Москва
НИЯУ МИФИ
2018
|
| Online Access: | ЭБС Лань ЭБС Лань Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |
| Summary: | В пособии рассмотрена возможность применения высокоэнергетичной протонной радиографии для диагностики вещества. Описаны принципы разработки ионно-оптических схем для протонной микроскопии и факторы, влияющие на пространственное и временное разрешение метода протонной радиографии. Приведены результаты проектирования ионно-оптических систем для радиографических установок на пучках протонов с энергией 1 и 9 ГэВ с оценкой пространственного разрешения установок, обусловленного хроматическими аберрациями. При написании пособия использованы материалы лекций по курсу "Физика пучков заряженных частиц", которые автор читала на факультете экспериментальной и теоретической физики НИЯУ МИФИ в 2012-2015 гг. Предназначено для магистрантов и аспирантов, специализирующихся в области физики конденсированного состояния вещества, физики плазмы и физики ускорителей, а также может быть полезно специалистам, занятым в междисциплинарных исследованиях, требующих применения современных радиографических методов. |
|---|---|
| Physical Description: | 20 с. |
| ISBN: | 9785726224695 |