Физика рентгеновского излучения

В первой главе рассмотрены принципы рентгеноструктурного анализа и связанные с ними некоторые вопросы кристаллографии. Во второй главе изложены теоретические принципы элементного анализа многокомпонентных веществ, примененные к анализу природных алюмосиликатов (глин) и диоксида титана. Показано, ч...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Стожаров, В. М.
Format: Book
Language:Russian
Published: Санкт-Петербург Лань 2022
Subjects:
Online Access:ЭБС Лань
ЭБС Лань
Перейти в каталог НТБ ТГАСУ
LEADER 03892nam a22003251 4500
005 20230306235648.0
007 cr bn uu|uu
008 220114s2022 ru W 000 m rus d
020 |a 9785811487530 
040 |a RU-ToGUA  |b rus  |c RU-ToGUA  |e PSBO 
080 |a 22.3я73 
084 |a 53  |2 rubbk 
100 1 |a Стожаров, В. М.  |9 378734 
245 1 0 |a Физика рентгеновского излучения  |h Электронный ресурс  |c Стожаров В. М. 
260 |a Санкт-Петербург  |b Лань  |c 2022 
300 |a 100 с. 
520 3 |a В первой главе рассмотрены принципы рентгеноструктурного анализа и связанные с ними некоторые вопросы кристаллографии. Во второй главе изложены теоретические принципы элементного анализа многокомпонентных веществ, примененные к анализу природных алюмосиликатов (глин) и диоксида титана. Показано, что метод элементного анализа в пределах десятых долей процента не зависит от полиморфизма исследуемого материала. В третьей главе рассмотрено явление полного внешнего отражения (ПВО) рентгеновских лучей от металлов и показано, что метод ПВО имеет чисто поверхностный характер и в сочетании с рентгеновской дифракцией установлен закон обратной зависимости показателя преломления рентгеновских лучей от межплоскостного расстояния. В следующей главе рассмотрено определение в твердых телах плазменных колебаний, возбужденных рентгеновскими лучами. Показана возможность измерения энергии плазмонов, концентрации плазменных локализованных электронов и энергии Ферми в металлах. Существенное расширение возможностей определения плазмонов методом ПВО обеспечил метод исследования дисперсии плазмонов в твердых телах. Показано, что этот метод позволяет определять внутренние механические напряжения и поляризацию в поверхностных слоях аморфных и кристаллических диэлектриков и полупроводников толщиной несколько нанометров. 
540 |a Книга из коллекции Лань - Физика 
650 4 |a кристаллография  |9 57065 
650 4 |a рентгеноструктурный анализ  |9 313208 
650 4 |a кристаллическая решетка  |9 78744 
650 4 |a рентгеновские лучи  |9 135966 
650 4 |a плазма  |9 43066 
650 4 |a дисперсия плазмонов  |9 378735 
650 4 |a аморфные полупроводников  |9 378736 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/197544  |y ЭБС Лань 
856 4 1 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/197544.jpg  |y ЭБС Лань 
856 |y Перейти в каталог НТБ ТГАСУ  |u https://catalog.tsuab.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=816151 
999 |c 816151  |d 816151 
039 |z 2  |b 2