Индицирование дифрактограммы и определение параметра кристаллической решетки вещества методические указания
Corporate Author: | Томский государственный архитектурно-строительный университет |
---|---|
Other Authors: | Старенченко, Светлана Васильевна (Compiler), Миронов, Юрий Петрович (Compiler) |
Format: | Book |
Language: | Russian |
Published: |
Томск
Издательство Томского архитектурно-строительного университета
2004
|
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |
Similar Items
-
Рентгеноструктурный анализ и его применение для изучения материалов разного назначения
by: Абрамов, И. А. -
Рентгеновское исследование искажений кристалической решетки описания лабораторных работ
Published: (2004) -
Физика рентгеновского излучения
by: Стожаров, В. М.
Published: (2022) -
Физика рентгеновского излучения
by: Стожаров, В. М.
Published: (2022) -
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов монография
Published: (2013)