Надежность интегральных полупроводниковых схем/

Bibliographic Details
Main Authors: Ефимов, И. Е. Иван Ефимович (Author), Кальман, И.Г (Author), Мартынов, В.И (Author)
Format: Book
Language:Russian
Published: М.: Издательство стандартов 1969
Series:Надежность. Качество
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
Description
Physical Description:74 с