Производственная и эксплуатационная надежность полупроводниковых микросхем/

Библиографическая информация
Главный автор: Скворцов, А. М. Альберт Матвеевич (Автор)
Соавтор: Ленинградский Дом научно-технической пропаганды21 Общество "Знание" РСФСР Ленинградская организация
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: Л. 1985
Серии:Новое в конструировании и технологии произв. радиоэлектронной аппаратуры
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР