Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Производственная и эксплуатаци...
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Производственная и эксплуатационная надежность полупроводниковых микросхем/

Производственная и эксплуатационная надежность полупроводниковых микросхем/

Библиографическая информация
Главный автор: Скворцов, А. М. Альберт Матвеевич (Автор)
Соавтор: Ленинградский Дом научно-технической пропаганды21 Общество "Знание" РСФСР Ленинградская организация
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: Л. 1985
Серии:Новое в конструировании и технологии произв. радиоэлектронной аппаратуры
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Похожие документы

  • Эксплуатационная надежность элеваторов
    по: Болтянский, Е.З, et al.
    Публикация: (1976)
  • Эксплуатационная надежность зданий
    по: Рогонский, Владислав Анатольевич
    Публикация: (1983)
  • Эксплуатационная надежность авиационных силовых установок
    по: Алексеев, Константин Петрович
    Публикация: (1976)
  • Эксплуатационная надежность искусственных сооружений сборник научных трудов
    Публикация: (1989)
  • Эксплуатационная надежность подвижного состава автомобильного транспорта обзорная информация
    по: Блудян, Н. О.
    Публикация: (1991)
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...