Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: Материалы 4 Всесоюз. науч. -техн. семинара. Рязань, 16-18 июня: В 2 ч. 1987г./ Ч. 1/Ред. П. Т. Орешкин

Bibliographic Details
Other Authors: Орешкин, П. Т. (Editor)
Format: Book
Language:Russian
Published: Рязань: РРТИ 1987
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
LEADER 01218nam a2200157 i 4500
001 LibTUSUR0000022708
008 060815s1987 ru_ l000 0yrus d
040 |a Библиотека ТУСУР  |b rus 
245 0 0 |a Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем:  |b Материалы 4 Всесоюз. науч. -техн. семинара. Рязань, 16-18 июня: В 2 ч. 1987г./  |c Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР, Рязанский радиотехнический институт.  |p Ч. 1/Ред. П. Т. Орешкин 
260 |a Рязань:  |b РРТИ  |c 1987 
300 |a 160 с. 
535 2 |a Библиотека ТУСУР  |d https://lib.tusur.ru 
852 |a Библиотека ТУСУР  |h 621.382  |i П901  |p 4  |b аунл 
080 |a 621.382.049.77.019.3(043.2) 
700 1 |a Орешкин, П. Т.  |4 edt 
856 |y Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР  |u https://lib.tusur.ru/irbis-new/i64r_15/cgiirbis_64.exe?Z21ID=&P21DBN=LIB&I21DBN=LIB&S21FMT=fullwebr&C21COM=S&2_S21P02=0&2_S21P03=I=&2_S21STR=621.382/П901-486344