LEADER 01536nam a2200253 i 4500
001 LibTUSUR0000023886
008 060815s1995 ru_ l000 0yrus d
040 |a Библиотека ТУСУР  |b rus 
245 0 0 |a Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах/  |c Российская Академия наук, Институт общей физики; Ред. А. В. Раков 
260 |a М.:  |b Наука  |c 1995 
300 |a 165 с. 
440 0 |a Труды ИОФАН;   |v Т.49 
535 2 |a Библиотека ТУСУР  |d https://lib.tusur.ru 
653 0 |a электронная микроскопия 
653 0 |a сканирующая туннельная микроскопия 
653 0 |a растровая электронная микроскопия 
653 0 |a электронные микроскопы 
653 0 |a линейные измерения 
653 0 |a микрообъекты 
852 |a Библиотека ТУСУР  |h 537  |i П781  |p 275586  |b аунл 
080 |a 537.533.35  |a 621.385.833 
700 1 |a Раков, А. В.  |4 edt 
710 2 1 |a Институт общей физики21  |a Российская Академия наук 
856 |y Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР  |u https://lib.tusur.ru/irbis-new/i64r_15/cgiirbis_64.exe?Z21ID=&P21DBN=LIB&I21DBN=LIB&S21FMT=fullwebr&C21COM=S&2_S21P02=0&2_S21P03=I=&2_S21STR=537/П781-718900