Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах/
| Corporate Author: | Институт общей физики21 Российская Академия наук |
|---|---|
| Other Authors: | Раков, А. В. (Editor) |
| Format: | Book |
| Language: | Russian |
| Published: |
М.:
Наука
1995
|
| Series: | Труды ИОФАН;
Т.49 |
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
Published: (2011) -
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: Учебное пособие для вузов/
by: Рыков Сергей Александрович
Published: (2001) -
Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Published: (2006) -
Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
by: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Published: (2005) -
Электронная микроскопия в цитологических исследованиях [методическое пособие для студентов 4-го курса биологического отделения факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии в рамках "Большого цитологического практикума"]
by: Морозова, Ксения Николаевна
Published: (2013)
