Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах/
| Соавтор: | Институт общей физики21 Российская Академия наук |
|---|---|
| Другие авторы: | Раков, А. В. (Редактор) |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Публикация: |
М.:
Наука
1995
|
| Серии: | Труды ИОФАН;
Т.49 |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Похожие документы
-
Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
Публикация: (2011) -
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: Учебное пособие для вузов/
по: Рыков Сергей Александрович
Публикация: (2001) -
Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Публикация: (2006) -
Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
по: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
Публикация: (2005) -
Электронная микроскопия в цитологических исследованиях [методическое пособие для студентов 4-го курса биологического отделения факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии в рамках "Большого цитологического практикума"]
по: Морозова, Ксения Николаевна
Публикация: (2013)
