Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: Учебное пособие для вузов/

Библиографическая информация
Главные авторы: Глудкин Олег Павлович (Автор), Черняев Владимир Николаевич (Автор)
Формат: Книга
Публикация: М.: Энергия 1980
Предметы:
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
Описание
Объем:359[1] с.: a-ил
Библиография:Библиогр.: с. 355. -Предм. указ.: с. 356-357