Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: Учебное пособие для вузов/

Bibliographic Details
Main Authors: Глудкин Олег Павлович (Author), Черняев Владимир Николаевич (Author)
Format: Book
Published: М.: Энергия 1980
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
Description
Physical Description:359[1] с.: a-ил
Bibliography:Библиогр.: с. 355. -Предм. указ.: с. 356-357