Определение ширины запрещенной зоны полупроводникового материала методом экстракции неосновных носителей: руководство к лабораторной работе по дисциплине "Физические основы электронной техники" для студентов специальности 0611 и 0612/
| Main Author: | Шангин, А. С. Александр Сергеевич (Author) |
|---|---|
| Corporate Author: | Министерство высшего и среднего специального образования РСФСР21 Томский институт автоматизированных систем управления и радиоэлектроники(Томск)21 Кафедра электронных приборов |
| Format: | Book |
| Published: |
Томск:
ТИАСУР
1987
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Измерение контактной разности потенциалов: руководство к лабораторной работе по дисциплине "Физические основы электронной техники" для студентов специальности 0611 "Электронные приборы" и 0612 "Промышленная электроника"/
by: Шангин, А. С. Александр Сергеевич
Published: (1987) -
AFM study of charging of the Au-n-GaAs contact
by: Shmargunov, A. V. -
Распределение поверхностного потенциала на гетерогранице AlxGa1-xAs
by: Брудный, Павел Александрович - Electrical properties of the V-defects of epitaxial HgCdTe
-
Введение в теоретическую физику
by: Планк, Макс 1858-1947
Published: (2004)
