Исследование гальваномагнитного эффекта: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальности 210201 и 210202/

Похожие документы

• Исследование структуры металл-диэлектрик-полупроводник: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
  по: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
  Публикация: (2007)
• Измерение подвижности носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
  по: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
  Публикация: (2007)
• Определение диффузионной длины и времени жизни неравновесных носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
  по: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
  Публикация: (2007)
• Физические основы микроэлектроники: лабораторный практикум/
  по: Торгонский, Л. А. Леонид Александрович
  Публикация: (2007)
• Исследование фотопроводимости полупроводников и определение релаксационного времени жизни неравновесных носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
  по: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
  Публикация: (2007)