Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/

Похожие документы

• Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие/
  по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
  Публикация: (2010)
• Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./
  по: Сих, М. П., et al.
  Публикация: (1987)
• Физические методы исследования объектов окружающей среды: Учебное пособие /
  по: Смирнов, Г. В. Геннадий Васильевич, et al.
  Публикация: (2007)
• Методы анализа поверхностей
  Публикация: (1979)
• Методы исследования материалов и структур электроники: Лабораторный практикум для студентов специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника"/
  по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
  Публикация: (2007)