Точечные дефекты в полупроводниках: экспериментальные аспекты: научное издание/

Библиографическая информация
Главные авторы:	Бургуэн, Ж. Жак (Автор), Ланно, М. Мишель (Автор)
Другие авторы:	Гальперин, Ю. М. (Переводчик), Гуревич, В. Л. (Редактор)
Формат:	Книга
Язык:	Russian
Публикация:	М.: Мир 1985
Предметы:	СОПРОТИВЛЕНИЕ МАТЕРИАЛОВ ПРОВОДИМОСТЬ
Online-ссылка:	Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Похожие документы