Методы исследования материалов и структур электроники: учебно-методическое пособие по аудиторным практическим занятиям и самостоятельной работе для студентов специальности 210104.65 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", направления 210100.62 "Электроника и микроэлектроника", направления 222900.62 "Нанотехнологии и микросистемная техника", 210100.62 "Электроника и наноэлектроника", 210600.62 "Нанотехнология"/

Bibliographic Details
Main Authors:	Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович (Author), Чистоедова, И. А. (Author)
Corporate Author:	Министерство образования и науки Российской Федерации21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники(Томск)21 Кафедра физической электроники
Format:	Book
Published:	Томск: ТУСУР 2012
Subjects:	УДЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ ХОЛЛА МЕТОД ВАН ДЕР ПАУ МЕТОД ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ИКЭЛЛИПСОМЕТРИЯ ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ РЕНТГЕНОВСКИЕ МЕТОДЫ УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ
Online Access:	Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Description
Physical Description:	52 с.: a-ил.
Bibliography:	Библиогр.: с. 47

Similar Items