Методы исследования материалов и структур электроники: учебно-методическое пособие по аудиторным практическим занятиям и самостоятельной работе для студентов специальности 210104.65 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", направления 210100.62 "Электроника и микроэлектроника", направления 222900.62 "Нанотехнологии и микросистемная техника", 210100.62 "Электроника и наноэлектроника", 210600.62 "Нанотехнология"/
| Main Authors: | Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович (Author), Чистоедова, И. А. (Author) |
|---|---|
| Corporate Author: | Министерство образования и науки Российской Федерации21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники(Томск)21 Кафедра физической электроники |
| Format: | Book |
| Published: |
Томск:
ТУСУР
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Научно-исследовательская работа: методические указания для студентов подготовки по направлениям 210100.62 "Электроника и наноэлектроника", 210600.62 "Нанотехнология", 222900.62 "Нанотехнологии и микросистемная техника"/
by: Смирнова, К. И. Клара Ивановна, et al.
Published: (2012) -
Измерение компонент тензора удельной электропроводности анизотропных полупроводниковых пластин модифицированным методом Ван дер Пау
by: Филиппов, Владимир Владимирович физик -
Лабораторный практикум по дисциплине "Физикохимия наноструктурированных материалов" [по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника"]
by: Дронов, Алексей Алексеевич
Published: (2011) - Использование СВЧ-резонаторного метода для измерения удельного сопротивления полупроводниковых пластин из карбида кремния
-
Исследование структуры и морфологии поверхности GaAs(100) при вакуумном отжиге методами эллипсометрии и дифракции быстрых электронов
by: Васев, Андрей Васильевич
