Оптические свойства тонких диэлектрических пленок Учебное пособие

Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: подложка-пленка-защитный слой. Изложены физические основы работы такой структуры в...

Полное описание

Библиографическая информация
Главный автор: Твердохлеб, П.В
Формат: Электронная книга
Язык:Russian
Публикация: Новосибирск Новосибирский государственный технический университет (НГТУ) 2019
Предметы:
Online-ссылка:https://znanium.com/catalog/document?id=397346
https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg
LEADER 03547nam a2200253 i 4500
001 zna1867915
006 m o
007 cr
008 220302d2022 RU s rus
040 |a RU  |b rus  |c RU  |d Ru-ToGu 
080 |a 539 
084 |a 223  |2 rubbk 
084 |a 12.03.02  |2 okso 
084 |a 12.03.03  |2 okso 
084 |a 12.04.02  |2 okso 
100 1 |a Твердохлеб, П.В. 
245 1 0 |a Оптические свойства тонких диэлектрических пленок  |b Учебное пособие 
260 2 |a Новосибирск  |b Новосибирский государственный технический университет (НГТУ)  |c 2019 
300 |a 87 с. 
520 |a Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: подложка-пленка-защитный слой. Изложены физические основы работы такой структуры в режимах прохождения ТЕ- и ТМ-поляризованных световых волн в том числе и с полным внутренним отражением на нижней границе раздела диэлектрических сред. Получены формулы для нахождения амплитудных и энергетических коэффициентов отражения и пропускания диэлектрических пленок. Исследованы зависимости таких коэффициентов от длины волны углов наклона и состояния поляризации световых волн а также от оптической толщины пленок. Включены вопросы задачи и расчетно-графические задания способствующие более глубокому пониманию физических процессов распространения и преобразования световых волн в тонких диэлектрических пленках и методов их компьютерного моделирования. Предназначено для магистров и бакалавров по направлениям 12.03.02 - Оптотехника 12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика 12.04.02 - Оптотехника а также для аспирантов по специальности 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы. 
650 1 0 |a Физико-математические науки  |x Физика твердого тела. Кристаллография 
856 4 |a znanium.com  |m ebs_support@infra-m.ru  |n НИЦ ИНФРА-М  |u https://znanium.com/catalog/document?id=397346  |a znanium.com  |m ebs_support@infra-m.ru  |n НИЦ ИНФРА-М  |u https://znanium.com/catalog/document?id=397346 
856 4 1 |a znanium.com  |d /cover/1867  |f 1867915.jpg  |q image/jpeg  |u https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg  |a znanium.com  |d /cover/1867  |f 1867915.jpg  |q image/jpeg  |u https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg 
910 |a ЭБС Знаниум