Оптический спектрометр высокочастотного тлеющего разряда PROFILER2 для послойного анализа твердых тел...

by Залогина, А. С.
Published in Труды IX международной конференции студентов и молодых ученых " Перспективы развития фундаментальных наук", 24-27 апреля 2012 г. Томск, Россия [CD-ROM]