Отображение 1 - 2 результаты of 2 Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Начать новый основной поиск | Начать новый расширенный поиск

  • Versions - Интегральная электроника: Технология изготовления, контроль производства. Вопросы надежности, испытания:
Отображение 1 - 2 результаты of 2, время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1
    Интегральная электроника: Технология изготовления, контроль производства. Вопросы надежности, испытания: Библиографический указатель N 13593. Отеч. и иностр. лит. за 1980-1981 гг. /2 полугодие /.
    Интегральная электроника: Технология изготовления, контроль производства. Вопросы надежности, испытания: Библиографический указатель N 13593. Отеч. и иностр. лит. за 1980-1981 гг....
    Публикация 1983
    Шифр: Загрузка...
    Местонахождение: Загрузка...
    Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
    Книга
  2. 2
    Интегральная электроника: Технология изготовления, контроль производства. Вопросы надежности, испытания: Библиографический указатель N 13593. Отеч. и иностр. лит. за 1980-1981 гг. /2 полугодие /.
    Интегральная электроника: Технология изготовления, контроль производства. Вопросы надежности, испытания: Библиографический указатель N 13593. Отеч. и иностр. лит. за 1980-1981 гг....
    Публикация 1983
    Шифр: Загрузка...
    Местонахождение: Загрузка...
    Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
    Книга
Инструменты поиска: RSS-поток

Уточните свой поиск

Книга 2 [исключить]
Библиотека ТУСУР 2 [исключить]
Всесоюзное общество "Знание". Отдел НТИ и библиографии. Центральная политехническая библиотека 2 [исключить]
Russian 2 [исключить]
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...