Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./...

by Сих, М. П., Бриггс, Д., Ривьер, Дж. К., Хофман, С., Олсон, Р. Р.
Published 1987