Отображение 1 - 1 результаты of 1 для поиска 'Kaczer, Ben', время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1
    Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
    по Franco, Jacopo, Kaczer, Ben, Groeseneken, Guido
    Опубликовано в: Springer eBooks (2014)
    Полный текст
    Электронная книга
Инструменты поиска: RSS-поток