Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов монография

В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель -...

Full description

Bibliographic Details
Other Authors: Клопотов, Абзаев, Потекаев, Волокитин, Клопотов физик доцент Томского политехнического университета, кандидат технических наук
Format: Book
Language:Russian
Published: Томск Изд-во ТПУ 2013
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог НТБ ТПУ
Description
Summary:В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.
Physical Description:263 с. ил.
Bibliography:Библиогр.: с. 262-263.