Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов монография

В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель -...

Полное описание

Библиографическая информация
Другие авторы: Клопотов, Абзаев, Потекаев, Волокитин, Клопотов физик доцент Томского политехнического университета, кандидат технических наук
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: Томск Изд-во ТПУ 2013
Предметы:
Online-ссылка:Перейти в каталог НТБ ТПУ
Описание
Итог:В монографии представлены физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов. Приведены основы традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Отдельно выделены принципы кристаллогеометрии с использованием основ теории симметрии. Цель - разумное совмещение фундаментальности и прикладных (практических) методов решения конкретных научно-исследовательских и материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов.
Объем:263 с. ил.
Библиография:Библиогр.: с. 262-263.