Особенности локальной структуры халькогенидных стеклообразных полупроводниковых систем As–Ge–Se(Te)
Meтодами дифракции рентгеновских лучей и комбинационного рассеяния света исследованы особенности локальной структуры, на уровне ближнего и среднего порядков, халькогенидных стеклообразных полупроводниковых систем As–Ge–Se(Te), а также основные структурные элементы и химические связи, образующие амор...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 66, № 3. С. 3-9 |
|---|---|
| Другие авторы: | , , , |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001000071 |