Dislocation filter based on LT-GaAs layers for monolithic GaAs/Si integration
The use of low-temperature (LT) GaAs layers as dislocation filters in GaAs/Si heterostructures (HSs) was investigated in this study. The effects of intermediate LT-GaAs layers and of the post-growth and cyclic in situ annealing on the structural properties of GaAs/LT-GaAs/GaAs/Si(001) HSs were studi...
| Published in: | Nanomaterials Vol. 12, № 24. P. 4449 (1-19) |
|---|---|
| Other Authors: | Petrushkov, Mikhail O., Abramkin, Demid S., Emelyanov, Eugeny A., Putyato, Mikhail A., Komkov, Oleg S., Firsov, Dmitrii D., Vasev, Andrey V., Yesin, Michail Yu, Bakarov, Askhat K., Loshkarev, Ivan D., Gutakovskii, Anton K., Atuchin, Victor V., Preobrazhenskii, Valery V. |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001008910 |
Similar Items
-
Наноразмерные кластеры мышьяка в GaAs
by: Чалдышев, Владимир Викторович - Использование поверхности (311)B GaAs при молекулярно-лучевой эпитаксии сверхрешеток GaAs/AlAs
-
Фазовая диаграмма поверхности GaAs(311)A при молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs
by: Путято, Михаил Альбертович - Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001)
- Особенности легирования и комплексообразования при молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs
