Влияние состава и структуры интерфейсных слоев на адгезионные свойства границы раздела TiAl/Al2O3

Методом проекционных присоединенных волн в рамках теории функционала электронной плотности проведено систематическое изучение химической связи на границе раздела γ-TiAl/α-Al2O3(0001) c промежуточными металлическими, оксидными и нитридными слоями. Рассчитаны значения энергии адгезии на интерфейсах в...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 66, № 9. С. 37-46
Main Author: Бакулин, Александр Викторович
Other Authors: Каспарян, Сергей Олегович, Кулькова, Светлана Евгеньевна
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001009283